Elektronik ve Yarı İletken Üretiminde Yapay Görme ve Yapay Zeka Tabanlı Kusur Tespiti Çözümleri
Özet: Baskı devre kartı (PCB) montaj hatları ve yarı iletken (wafer) üretim süreçleri, yüksek komponent yoğunluğu nedeniyle mikron altı tolerans yönetimini zorunlu kılmaktadır. Bu makalede, yüzey montaj teknolojisinde (SMT) lehim hatalarını, bileşen eksikliklerini ve mikro çatlakları gerçek zamanlı olarak tespit eden yapay görme hat içi (in-line) kontrol sistemleri ve derin öğrenme tabanlı optik denetim mimarileri…
